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美國NIST標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)SRM640硅粉的簡介
  • 更新日期：2023-07-26      瀏覽次數(shù)：499

      • 美國NIST標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)SRM640硅粉 的認(rèn)證值：22.5 °C 溫度的認(rèn)證晶格參數(shù)為 0.5431144nm ± 0.000008nm 。


      美國NIST標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)SRM640硅粉 旨在用作校準(zhǔn)通過粉末衍射測定的衍射線位置和線形的標(biāo)準(zhǔn)品。 SRM640標(biāo)準(zhǔn)硅粉由超高純度、本征硅晶錠制成，這些晶錠經(jīng)粉碎和噴射研磨至平均粒徑為 4.1 微米。然后將所得粉末在吸氣氬氣下在 1000 °C 下退火 2 小時 [1] 并在氬氣下裝瓶。X 射線粉末衍射數(shù)據(jù)的分析表明，SRM640超高純硅粉材料在衍射特性方面是均勻的。


      SRM640硅粉從Siltronic AG（德國慕尼黑）獲得。粉碎由Hosokawa Micron Powder Systems（Summit，NJ）進(jìn)行。


      SRM 640f 硅粉（衍射線位置和線形標(biāo)準(zhǔn)）適用于用粉末衍射法測定衍射線位置和線型的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。SRM 640 f的一個單位由大約7.5g裝在氬下的硅粉組成。SRM是由超高純度的內(nèi)稟硅球團(tuán)粉碎后，噴射磨成中位粒徑為4.I的固體火箭發(fā)動機(jī)，然后在1000~CFOR溫度下退火，2小時后裝瓶。X射線粉末衍射數(shù)據(jù)分析表明，SRM材料在不同性質(zhì)上均質(zhì)。


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